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  • 表面檢測系統,可提供不同版本和系統概念 蔡司ABIS II

    使用模塊化探頭實現客觀、快速的測量
    ABIS II可用于檢測各種缺陷類型。該系統可對凹痕、凹凸、凹陷、波紋、收縮、裂縫進行可靠的早期識別和分類,它是生產鈑金零件和白車身的完美質量控制儀器。用戶尤其可從高精度和極短的循環時間中獲益。ABIS II的模塊化探頭技術具有極高的靈活性。通過可選的集成對比探頭,它還可以用于檢測對比度敏感的缺陷,例如:粘合劑殘留物、劃痕和污垢。

    可選探頭:
    可選軟件:
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